集成电(dian)路(lu)测(ce)试(shi)技(ji)术(shu)与(yu)产品(pin)应(ying)用(yong)开发研(yan)讨会(hui)在(zai)京(jing)召(zhao)开(kai)

2019年度(du)第(di)一期(qi)“集成电(dian)路(lu)测试技(ji)术与(yu)产品(pin)应用(yong)开发(fa)研讨会(hui)”于(yu)5月27日至5月31日在北(bei)京(jing)华(hua)峰测(ce)控技(ji)术股份有(you)限公(gong)司(si)北(bei)京(jing)总(zong)部(bu)召(zhao)开。

会上，来自(zi)全(quan)国(guo)各(ge)器(qi)件(jian)生产厂(chang)家(jia)、元器(qi)件(jian)检(jian)测(ce)筛选(xuan)中(zhong)心(xin)的(de)一线技(ji)术(shu)人员(yuan)，共同就(jiu)当今半(ban)导(dao)体(ti)行(xing)业测试(shi)技(ji)术(shu)的(de)热点话(hua)题(ti)展(zhan)开讨论与分(fen)享(xiang)。北京(jing)华峰测(ce)控技术(shu)股(gu)份有(you)限(xian)公司(si)ATE市(shi)场(chang)部(bu)经理(li)刘(liu)惠(hui)鹏(peng)，根据近(jin)年来在(zai)大(da)功率器件(jian)交(jiao)直(zhi)流一体化(hua)测(ce)试上积累(lei)的经(jing)验，以常(chang)见(jian)的(de)MOSFET为(wei)例，详(xiang)细(xi)讲述了(le)设备(bei)是如何一次(ci)实(shi)现(xian)直(zhi)流(liu)、时间(jian)、UIS、Rg、Ciss、Coss、Crss全参(can)数测(ce)试的(de)。同(tong)时(shi)分(fen)享(xiang)了(le)大(da)功(gong)率IPM器件(jian)的解(jie)决(jue)方(fang)案和华(hua)峰(feng)公司(si)在未(wei)来(lai)新(xin)材(cai)料半导(dao)体测试(shi)领域的(de)预(yu)研成(cheng)果。

作为(wei)研讨(tao)会的(de)第(di)一(yi)个(ge)主(zhu)题(ti)，刘惠(hui)鹏(peng)所(suo)讲(jiang)演(yan)的(de)“功率(lv)器(qi)件(jian)动态参(can)数(shu)测(ce)试技(ji)术(shu)”这(zhe)一(yi)题目(mu)，引起了(le)全部(bu)参(can)会人员(yuan)的极(ji)大(da)兴趣(qu)，会后(hou)提(ti)问交流(liu)环(huan)节(jie)长(zhang)达(da)30分(fen)钟(zhong)，有(you)些(xie)问(wen)题(ti)甚(shen)至深入到了华(hua)峰(feng)的(de)专(zhuan)利(li)技术，可谓(wei)擦出了不(bu)少(shao)“火花(hua)”，精(jing)彩(cai)连(lian)连(lian)！

集(ji)成(cheng)电路的(de)测(ce)试和(he)筛选，安全性(xing)格外的(de)重要(yao)。如(ru)何(he)安全的使用测试(shi)设(she)备(bei)，如(ru)何安全的(de)对(dui)器(qi)件(jian)的(de)电参(can)数(shu)进(jin)行检(jian)测(ce)，甚至(zhi)在检测(ce)失(shi)效(xiao)时如(ru)何(he)合(he)理(li)的(de)进(jin)行(xing)问题分析(xi)和定(ding)位。本次研(yan)讨(tao)会针对这(zhe)些问题(ti)，由(you)华峰测控有着(zhe)多(duo)年(nian)测试实战(zhan)经(jing)验的(de)技(ji)术支持(chi)工(gong)程(cheng)师(shi)周昊(hao)鹏(peng)、于松(song)涛，以自(zi)己最(zui)擅(shan)长的(de)领域(yu)分(fen)别(bie)讲述了“如(ru)何安(an)全(quan)有效(xiao)的测(ce)试大(da)功(gong)率(lv)电源(yuan)管理类(lei)器件”和“如何安(an)全(quan)有(you)效(xiao)的(de)测(ce)试CMOS4000电路”两(liang)个话题(ti)。

随着(zhe)国(guo)内(nei)半导(dao)体(ti)行(xing)业(ye)的飞(fei)速发展，测试(shi)对象(xiang)的(de)复(fu)杂程度(du)与日俱(ju)增(zeng)，同时也(ye)对测(ce)试设(she)备提出(chu)了(le)更高(gao)的(de)要(yao)求(qiu)。本(ben)次研(yan)讨会(hui)上(shang)，华(hua)峰(feng)测控(kong)针对STS6100大(da)规模(mo)数字集成(cheng)电(dian)路(lu)测试(shi)系(xi)统上的(de)高级(ji)编(bian)程语言(yan)进行了(le)讲解，有了这种(zhong)底(di)层(ceng)高级(ji)开发(fa)语言(yan)，可以更方(fang)便(bian)的让测(ce)试(shi)工(gong)程师(shi)根据(ju)器件(jian)参数的具(ju)体要(yao)求实(shi)现测试，在测试(shi)设备(bei)便(bian)捷性(xing)的基础上增(zeng)加灵活(huo)性，摆脱固有测试参(can)数(shu)的局(ju)限(xian)。

STS8207S作为(wei)全(quan)新(xin)的模(mo)拟器件测(ce)试机，在运算(suan)放(fang)大器(qi)的测(ce)试(shi)上继续(xu)着(zhe)华峰精益(yi)求(qiu)精(jing)、追(zhui)求极致的(de)特点。面对(dui)更(geng)多(duo)高精度的(de)运算放大器(qi)、仪(yi)表(biao)放(fang)大(da)器(qi)以及(ji)差分放大(da)器等器(qi)件，华(hua)峰(feng)测(ce)控的(de)工(gong)程师(shi)在(zai)研讨会上(shang)分享(xiang)了近(jin)几年的工作成(cheng)果，从了解器件特(te)点(dian)和参(can)数入手，针(zhen)对(dui)不同测(ce)试对(dui)象(xiang)的(de)特(te)点选(xuan)择合(he)理(li)的(de)测(ce)试(shi)方案(an)，再(zai)根(gen)据(ju)现有(you)测试设(she)备(bei)、仪器仪(yi)表的(de)能力实(shi)现测试方案(an)。

每当有(you)真实测试(shi)样(yang)例的(de)分享(xiang)，参(can)会(hui)人(ren)员都听(ting)的格外认真(zhen)专注(zhu)。

本次(ci)研讨(tao)会的顺(shun)利召(zhao)开离(li)不(bu)开(kai)广大(da)用户的(de)鼎力(li)支持，我(wo)们将一(yi)如(ru)既(ji)往(wang)的分享最新研(yan)发(fa)成果(guo)，让(rang)我们(men)相约金(jin)秋(qiu)再(zai)见！