03-31
2014年(nian)3月19-21日,成功(gong)参加Semicon China2014。再次(ci)展示AccoTEST的(de)CROSS概念,STS8200TWIN模式的展示(shi),同时展示(shi)并测和(he)并(bing)发(fa)测(ce)试(shi)概(gai)念;STS8203展示(shi)DC分站,雪崩(beng)测(ce)试(shi),热(re)阻(zu)测(ce)试(shi),Cg/Rg测(ce)试的(de)一体(ti)机(ji)方(fang)案;STS8250则(ze)是全(quan)新(xin)的测试(shi)头结构(gou)的模拟(ni)/混合信号(hao)测(ce)试(shi)机(ji)的展(zhan)示(shi)。
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