1）POWER插(cha)座中定义(yi)了(le)5个地(di)线(xian)AGND，PCB布(bu)板时(shi)可(ke)将这5个(ge)点连(lian)在一起(qi)，并采(cai)用较(jiao)粗(cu)的线(xian)宽，推(tui)荐(jian)在正反两(liang)面(mian)将(jiang)空(kong)白(bai)空间铺(pu)满(man)AGND敷铜(tong)；

2）DUT板上的(de)插(cha)座(zuo)外壳(ke)和(he)电(dian)缆(lan)的(de)屏蔽层(ceng)是相(xiang)连的，所以在(zai)设(she)计PCB时(shi)一(yi)定(ding)要(yao)把(ba)插(cha)座(zuo)的(de)外壳(ke)和AGND连(lian)通，否则(ze)屏(ping)蔽效(xiao)果会变(bian)差(cha)；

3）在(zai)大电(dian)流的(de)测(ce)试中(zhong)FORCE线应该(gai)有足(zu)够(gou)的线(xian)宽（通(tong)常(chang)建(jian)议按(an)大于(yu)2A/50 mil线宽设计PCB），尽(jin)量避免采用(yong)对穿孔；

4）允许(xu)一根CBIT线(xian)同(tong)时控制多个继(ji)电(dian)器(qi)，但(dan)其(qi)总(zong)电(dian)流不能超(chao)过100mA（一般(ban)继(ji)电(dian)器(qi)的(de)工作(zuo)电(dian)流都(dou)是mA级的，也就(jiu)是(shi)说(shuo)一(yi)根CBIT线(xian)能同时控制20个继电(dian)器(qi)的开(kai)合）。

1）PCB板(ban)是漏电的(de)最(zui)重要的(de)原因(yin)，选用(yong)高质量(liang)的(de)板材(cai)是(shi)测(ce)试小(xiao)电流的(de)前提(ti)；

2）在(zai)布板(ban)时(shi)尽量拉大焊(han)盘间(jian)的距(ju)离(li)；

3）在PCB布线时应在(zai)正(zheng)反两(liang)面用GUARD线将FORCE和SENSE线完整(zheng)地(di)包(bao)围起来，构(gou)成(cheng)等(deng)电位屏(ping)蔽(bi)环(huan)，防(fang)止与其他不同电(dian)位点之间的(de)漏电(dian)；

4）为(wei)防止(zhi)PCB板线(xian)间(jian)漏电，采(cai)用(yong)飞(fei)线其(qi)实是(shi)又(you)简(jian)单又(you)有(you)效(xiao)的方(fang)法。

1）一(yi)定要(yao)用(yong)英(ying)文(wen)输(shu)入法写代(dai)码(ma)，并且(qie)需(xu)要(yao)区(qu)分大、小(xiao)写(xie)；

2）声(sheng)明(ming)的变(bian)量(liang)一(yi)定要(yao)赋初(chu)值(zhi)（例如(ru)：int i=0;）；

3）描述(shu)测试参(can)数时，一(yi)定(ding)要(yao)特别(bie)注意指(zhi)向(xiang)正(zheng)确的(de)函数(shu)；

4）如(ru)果是V1.1.0.3以(yi)前(qian)版(ban)本（包括V1.1.0.3）的(de)系统软(ruan)件(jian)，如果用(yong)到(dao)DIO板，需(xu)要在(zai)程序里(li)加入(ru)“#include DIO.h”语(yu)句(ju)。如果(guo)同时(shi)用到QTMU板(ban)，则QTMU板的版(ban)本(ben)一(yi)定(ding)要在V1.3以上；

5）切(qie)记：系统(tong)中，电压(ya)单(dan)位缺省(sheng)是V，电流单位缺省(sheng)是(shi)A，频率(lv)单(dan)位缺省是KHz，时(shi)间单(dan)位缺(que)省是us；

6） 保存测(ce)试(shi)结果的数(shu)组，对于(yu)VI源要定(ding)义成float型(xing)一维数组，数组长(zhang)度(du)大于等于4；对(dui)于ACSM，数(shu)组(zu)长(zhang)度(du)要(yao)大于10000；QTMU的(de)类型需要定(ding)义(yi)成double类型，数(shu)组长(zhang)度等于(yu)4。例外：DIO板不(bu)同的(de)函数返(fan)回值类(lei)型不(bu)同(tong)，具(ju)体(ti)如下：DIO板读(du)取RAM内(nei)pattern运行结果(guo)函数――GetSerialPatternResult()返(fan)回(hui)值(zhi)类(lei)型(xing)为(wei)DWORD型，十进(jin)制整(zheng)数。

7）在进行电压(ya)或电流量程切换时(shi)，建议在(zai)Disable或Disconnect的状态下进行(xing)，避(bi)免(mian)在切换(huan)量(liang)程时产生(sheng)电压(ya)或(huo)电流尖峰；

8）大功率(lv)器(qi)件(jian)编程(cheng)时(shi)，建议(yi)把(ba)小(xiao)负载参数和(he)大(da)负(fu)载参数分(fen)成2个(ge)函(han)数(shu)，这样即(ji)便因(yin)为(wei)接触不(bu)良而(er)导致小(xiao)负(fu)载(zai)输(shu)出(chu)fail时，不会(hui)再(zai)继(ji)续运(yun)行(xing)大(da)负(fu)载(zai)输(shu)出(chu)的测试(shi)，保(bao)证了(le)测试的安全性(xing)。

1）如错(cuo)误(wu)提(ti)示(shi)“Cannot open include file: "astdef.h"”。请检(jian)查include是(shi)否(fou)添加Accotest根(gen)目(mu)录(lu)下的(de)include文(wen)件(jian)夹(jia)。

2）如错误提示(shi)“Cannot open file "Ast2k.lib"”。请(qing)检查(cha)Lib是(shi)否(fou)添加(jia)Accotest根(gen)目录(lu)下(xia)的Lib文件夹。

3）如错(cuo)误提示(shi)“Cannot open include file: "windows.h"”。请(qing)检查(cha)include是否(fou)添(tian)加VC软(ruan)件(jian)自带(dai)include库（VC6.0对应(ying)路径：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio\VC98\MFC\INCLUDE ；VC2005对应路径(jing)：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\Lib）。

4）如(ru)错(cuo)误(wu)提(ti)示“cannot open file "LIBCMTD.lib"”。请(qing)检查(cha)Lib是(shi)否(fou)添(tian)加VC软件(jian)自带Lib库（VC6.0对应路径：C:\PROGRAM FILES\MICROSOFT VISUAL STUDIO\VC98\LIB；VC2005对(dui)应(ying)路(lu)径：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\include）。

通(tong)常情(qing)况(kuang)下，当(dang)测(ce)试(shi)参数和(he)测试(shi)函(han)数体数目相同(tong)，且(qie)一一(yi)对(dui)应时，测试参数(shu)的显(xian)示(shi)、测试顺(shun)序是(shi)一(yi)致的(de)，由(you)CParam定(ding)义(yi)。

但(dan)，当(dang)2个(ge)以上(shang)的(de)测试参(can)数指(zhi)向(xiang)同(tong)一个测试函数体时，有时(shi)显(xian)示顺序和测(ce)试顺(shun)序(xu)可(ke)能(neng)会(hui)不(bu)一致(zhi)。样(yang)例如(ru)下：

Void test_A();

Void test_B();

Void test_C();

同时我们(men)又(you)定(ding)义了四(si)个测(ce)试参(can)数：

CParam:a,b,c,d;

在对(dui)四(si)个(ge)测试(shi)参(can)数(shu)做(zuo)描(miao)述时(shi)，我(wo)们把参(can)数a指向(xiang)了test_A()，把b和(he)c指向(xiang)了(le)test_B()，参数(shu)d指(zhi)向(xiang)了test_C()。如(ru)果b和(he)c在(zai)test_B()的(de)先后(hou)顺(shun)序就(jiu)是(shi)先b后(hou)c。那(na)么我们(men)的测试(shi)顺序(xu)和屏(ping)幕显示(shi)顺(shun)序(xu)就是一致(zhi)的a→b→c→d。如果在test_B中(zhong)，我们(men)先(xian)编写(xie)了(le)参(can)数(shu)c的代码然后编(bian)写(xie)了(le)参(can)数(shu)b的(de)代(dai)码(ma)。那么在(zai)显(xian)示(shi)时的顺序仍旧(jiu)是a→b→c→d，但实(shi)际(ji)测(ce)试(shi)顺序(xu)却变(bian)成(cheng)了(le)a→c→b→d。

【注意(yi)】需(xu)要(yao)说(shuo)明(ming)的(de)是，test_A，test_B，test_C在(zai)程序中的位(wei)置和顺(shun)序对测试(shi)和(he)显示顺(shun)序是(shi)没有影(ying)响的。

【建(jian)议】在(zai)编写(xie)程序时(shi)，特(te)别(bie)注(zhu)意test_A, test_B, test_C在程序(xu)段(duan)中(zhong)的(de)位置关(guan)系(xi)，尽量(liang)保(bao)证测试(shi)顺(shun)序(xu)和显(xian)示的顺(shun)序一致(zhi)。这(zhe)样做的好处(chu)是直观，思(si)路(lu)清晰(xi)，方(fang)便对源的调用。

如(ru)果没(mei)有(you)扫描(miao)参数，单(dan)工位和多(duo)工(gong)位程(cheng)序是(shi)完(wan)全(quan)相(xiang)同的，区(qu)别(bie)在于使(shi)用(yong)不(bu)同(tong)的(de)config文(wen)件(jian)，由config文件来(lai)控(kong)制(zhi)是单工(gong)位测试还(hai)是多工(gong)位(wei)测(ce)试。读出测(ce)试(shi)结(jie)果时，多(duo)工位(wei)程(cheng)序(xu)通(tong)常(chang)采(cai)用(yong)循环(huan)语句(ju)读(du)取，数据(ju)第(di)一(yi)位是(shi)site1的，第二位(wei)是site2的。。。以(yi)此类推(tui)。比如下面(mian)一段程序(xu)：

for(i=0 ; i<siteID ; i++)

 }

其中(zhong)siteID是(shi)要(yao)测试(shi)的工(gong)位数(shu)。当(dang)siteID=4时(shi)就是(shi)四(si)工(gong)位赋(fu)值(zhi)，通过上(shang)面(mian)的(de)一(yi)段(duan)代码可以把(ba)存放在(zai)数(shu)组adresult[4]中的(de)数据(ju)读出(chu)来(lai)。如(ru)测试(shi)的结果是a,b,c,d，adresult[4]={a,b,c,d};那(na)么adresult[0]=a就是site1的测试结(jie)果(guo)；同(tong)理(li)，adresult[1]=b是site2的(de)值；adresult[2]=c是site3的值(zhi)；adresult[3]=d是site4的值。

不(bu)建(jian)议(yi)客户(hu)自己(ji)修改config文件，如果需(xu)要改(gai)动(dong)，建(jian)议请(qing)供应商帮忙(mang)修(xiu)改。