用(yong)户在进(jin)行测(ce)试(shi)前，可开启(qi)AccoTEST软(ruan)件(jian)内(nei)硬(ying)件(jian)配(pei)置(zhi)检(jian)查功能，软(ruan)件(jian)将在(zai)每一(yi)次(ci)测(ce)试(shi)前自(zi)动(dong)检查测(ce)试系(xi)统(tong)中(zhong)板卡资源与(yu)测试程(cheng)序中多(duo)工位(wei)硬(ying)件(jian)绑定函(han)数设置(zhi)是(shi)否(fou)匹配(pei)，以此(ci)可(ke)一定程度(du)避免因板(ban)卡资源(yuan)不(bu)够(gou)导(dao)致(zhi)的(de)测(ce)试失效隐患(huan)。

STS8300测(ce)试系统(tong)除了可(ke)设(she)置(zhi)检(jian)查(cha)硬件(jian)配(pei)置(zhi)外， THB上EEPROM芯(xin)片也可(ke)预(yu)先(xian)存储测试(shi)器件(jian)所(suo)需的(de)板(ban)卡配置(zhi)信(xin)息(xi)，测试时会(hui)比对(dui)EEPROM中的(de)信息和当(dang)前(qian)系(xi)统的(de)配置(zhi)，匹配(pei)后才可继(ji)续(xu)测(ce)试(shi)。

EEPROM使(shi)用方(fang)式可参考(kao)《测(ce)试防(fang)呆及报警（2）Config Tool》。