SPL（Statistical Parameter Limit），软(ruan)件对参(can)数(shu)进(jin)行(xing)测试(shi)管(guan)控。在(zai)测(ce)试(shi)过程(cheng)中，可(ke)以使用(yong)该(gai)功(gong)能管(guan)控(kong)某个(ge)或某(mou)些(xie)测(ce)试参数(shu)是否超限(xian)，从(cong)而获得(de)更高(gao)的测试良率(lv)。该功能特性包括(kuo)： 

（1） 参(can)数(shu)良(liang)率(lv)超限(xian)停机并报(bao)警； 

（2） 参(can)数(shu)良率差(cha)超限(xian)停(ting)机并报警； 

（3） 参(can)数(shu)各(ge)工(gong)位平均值差(cha)超限停(ting)机(ji)并(bing)报警(jing)； 

（4） 参(can)数平均值超限停(ting)机并(bing)报(bao)警； 

（5） 参数测(ce)试(shi)波(bo)动超限停(ting)机(ji)并报(bao)警(jing)； 

（6） 参(can)数(shu)叠(die)料(liao)停机并报(bao)警； 

（7） 程序(xu)可(ke)编程控(kong)制(zhi)； 

（8） 报警信(xin)息(xi)可(ke)存储； 

（9） FT 与 RT 可(ke)设置(zhi)不(bu)同(tong)管(guan)控状(zhuang)态。